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数学进展
研究论文
CWC映射和度量化定理(英文)
CWC Mappings and Metrization Theorems

燕鹏飞;林寿;
YAN Pengfei, LIN Shou

五邑大学数学系,安徽大学数学系 合肥,安徽,230039,漳州师范学院数学系,,江门,广东,529000,漳州,福建,363000
(Department of Mathematics, Wuyi University, Jiangmen, Guangdong, 529000, P.R.China;Department of Mathematics, Anhui University, Hefei, Anhui, 230039, P. R. China;Department of Mathematics, Zhangzhou Teacher's College, Zhangzhou,Fujian,363000, P. R. China

收稿日期: 2007-04-25
出版日期: 2007-04-25

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摘要 利用CWC映射,本文获得了对称度量空间和g可度量空间的特征,建立了几个度量化定理,改进了一些已知结果.主要的定理是证明正则空间X是可度量化空间当且仅当存在X上的CWC映射g满足如下条件: (Ⅰ)若序列{xn}和{yn}对于每一n∈N有xn∈g(n,yn)且xn→x,则yn→x.(Ⅱ)若序列{xn}和{yn}对于每一n∈N有yn∈g(n,yn)且xn→x,则yn→x.
关键词 可度量化空间CWC映射对称度量空间g可度量空间    
Abstract:By using the concept of CWC, we establish several new metrization theorems, and obtain the characterization of g-metrizable spaces and symmetric spaces, which generalize some known results.
Key words CWC mappings
[1] 燕鹏飞;林寿;杨海蓉;. 关于有限子序列覆盖映射(英文)[J]. 数学进展, 2010, 39(6): 651-656.
[2] 林寿. 弱基与覆盖性质[J]. 数学进展, 2003, 32(1): 118-120.
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